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Ceyear ist ein führender Hersteller von Mess- und Prüftechnik und spezialisiert auf Lösungen für Hochfrequenz-, Mikrowellen-, Kommunikations- und Glasfaseranwendungen. Das Portfolio umfasst Spektrumanalysatoren, Vektornetzwerkanalysatoren, Signalgeneratoren, Oszilloskope, optische Messgeräte und EMV-Prüfsysteme. Ingenieure aus Telekommunikation, Luft- und Raumfahrt, Verteidigung und Forschung vertrauen auf Ceyear für präzise Messungen und die Validierung moderner Technologien.
3672 Series Vector Network Analyzers include 3672A (10MHz～13.5GHz), 3672B (10MHz～26.5GHz),
3672C (10MHz～43.5GHz), 3672D (10MHz～50GHz) and 3672E (10MHz～67GHz). In terms of
hardware, comparing to last generation, the brand-new design concept and technical proposal have
upgraded key performance indexes (KPI) of the complete machine such as sweep speed and dynamic range
etc.; in terms of software, the embedded computer system (ECS) with high-performance microprocessor
chip and the platform based on Windows operating system has greatly improved interconnectivity and
usability of the complete machine. 3672 analyzers provide multiple calibration types including frequency
response, single port, response isolation, enhanced response and full dual-port, electronic calibration etc.,
offer various display formats such as logarithmic amplitude, linear amplitude, standing-wave, phase, group
delay, Smith chart and polar coordinates, etc.
They are designed with several standard interfaces: USB, LAN, GPIB and VGA etc. Besides all
measurement functions same as traditional vector network analyzer, through configuration of functional
options, 3672 analyzers are also capable of multifunctional & comprehensive parameter test of
mixer/converter, gain compression two-dimensional sweep and pulse S-parameters, as well as accuracy
measurement of amplitude-frequency characteristics, phase-frequency characteristics and group delay used
in the field of transmitting/receiving (T/R) module measurement, dielectric material properties
measurement, microwave pulse characteristics measurement and optoelectronic properties measurement,
which are indispensable instruments for scientific research and manufacturing process of radar,
communication, and navigation systems.
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